解析纳米材料圆偏振发光（CPL）的微尺度结构‑性能关系，是开发高效圆偏振发光活性材料的关键^[1-3]。在这里，我们以手性Ru-MOF作为研究模型，采用超分辨结构光照明显微镜（SIM）实现圆偏振发光的可视化分析。该方法测得Ru-MOF单颗粒统计g_lum与CPL光谱测试级别（10^-2）相吻合。通过探究手性Ru‑MOF微纳米尺度的发光行为，我们发现颗粒间的CPL差异来源于颗粒内部g_lum的局域非均一性，即内部区域间g_lum存在数量级差异，甚至出现信号反转并通过晶体缺陷与非缺陷区统计对比证明晶体缺陷可以增强Ru-MOF的CPL信号。此外，我们探究微区荧光强度与局域g_lum的本征关联，从微观角度揭示g_lum的本征属性性质并构建贴合实际应用的B_CPL指标用于评价表观CPL性能。最后，时间分辨对映选择性成像结果显示，Ru-MOF单颗粒荧光强度随时间衰减，而g_lum呈无序波动，晶体局部与整体的g_lum随时间呈现出同步或异步的动态变化，反映出晶体内部手性结构的光响应差异，进一步证明g_lum的本征特性。本方法为深入理解CPL材料的微观性能机制、开发高效CPL活性材料提供了新的思路与参考。